PCB在線功能測(cè)試系統(tǒng)的主要制約因素就是其反向驅(qū)動(dòng)器的吸收/施放電流能力過(guò)強(qiáng)，從而遮蓋了被測(cè)芯片輸入腳出現(xiàn)的故障現(xiàn)象。例如，大多數(shù)芯片的輸入腳阻抗都很高（大于1兆歐姆），如果輸入腳內(nèi)部功能損壞，則該腳阻抗可能降低到大約20歐姆，這將導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)該輸入腳的芯片產(chǎn)生扇出問(wèn)題，從而出現(xiàn)電路故障，因?yàn)槎鄶?shù)芯片只能驅(qū)動(dòng)輸出10毫安左右的電流。然而，一般的反向驅(qū)動(dòng)測(cè)試儀器卻能夠驅(qū)動(dòng)阻抗為20歐姆的輸入腳，這就使本來(lái)輸入腳出現(xiàn)故障的芯片也能通過(guò)功能測(cè)試。QT200能夠驅(qū)動(dòng)8歐姆以上的節(jié)點(diǎn)（小于8歐姆視為短路），這是Qtech系列檢修設(shè)備系統(tǒng)的主要問(wèn)題。

 

一、PCB在線檢修的步驟

一般檢修PCB的流程圖

 

PCB常見(jiàn)器件種類：

1、門電路/組合邏輯型器件

如:7400,7408等

可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試

2、時(shí)序器件/觸發(fā)器、計(jì)數(shù)器

如:7474,7492等

可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試

3、總線器件（三態(tài)輸出）

如:74245,74244,74374等

可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試

4、PAL,ROM,RAM

如:2764，14464

可使用ICFT進(jìn)行測(cè)試

5、LSI器件

如:8255,8088,Z80等

可使用ICFT,QSM/VI進(jìn)行測(cè)試

6、用戶專用芯片

使用QSM/VI方式測(cè)試 

 

PCB測(cè)試失敗原因：

1、芯片功能損壞

2、速度/時(shí)序問(wèn)題

3、芯片管腳狀態(tài)（懸空,高阻,時(shí)鐘,非法連接）

4、OC門線或狀態(tài)

5、扇出問(wèn)題

 

ICFT測(cè)試結(jié)果分類：

1、測(cè)試通過(guò)

2、測(cè)試失敗

3、器件沒(méi)有完全測(cè)試

4、器件比較相同

5、器件比較不相同

 

二、PCB在線功能測(cè)試出現(xiàn)不同測(cè)試結(jié)果的處理方法

1、出現(xiàn)“測(cè)試失敗”結(jié)果時(shí)

1) 查看測(cè)試夾具是否接錯(cuò)了芯片，是否與被測(cè)芯片聯(lián)接良好。從管腳狀態(tài)窗口查看是否有開(kāi)路管腳（顯示HIZ），是否測(cè)出電源管腳。糾正這些問(wèn)題后重新測(cè)試。

2) 如果結(jié)果仍然是“測(cè)試失敗”，將鼠標(biāo)移到管腳狀態(tài)窗口后單擊左鍵，使顯示管腳阻抗。比較出現(xiàn)錯(cuò)誤的管腳阻抗與另外相同功能的管腳阻抗。如果是芯片的某個(gè)輸出腳出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤，則查看該腳與其它輸出腳的阻抗是否一致（注意此時(shí)的阻抗是芯片帶電時(shí)測(cè)量的對(duì)地阻抗）。

3) 如果比較的阻抗大致相等，則調(diào)低測(cè)試時(shí)基或門限值，然后再測(cè)一遍。若這次測(cè)試通過(guò)，則說(shuō)明該芯片出現(xiàn)的測(cè)試錯(cuò)誤是時(shí)序方面的問(wèn)題。這可能是輸出腳接了電容器件，由于電容的放電過(guò)程，使輸出腳狀態(tài)翻轉(zhuǎn)變慢。如果調(diào)整時(shí)基或門限值后的測(cè)試能夠通過(guò)的話，可有90%的把握確定該器件沒(méi)有損壞，此時(shí)即可轉(zhuǎn)到測(cè)試下一個(gè)芯片。

如果調(diào)整時(shí)基或門限值后測(cè)試仍未通過(guò)，則檢查是否需要設(shè)置隔離。若不需要隔離，則直接進(jìn)入第5步。

4) 如果從夾具狀態(tài)中看出測(cè)試失敗的原因是由于輸出腳不能達(dá)到正常的邏輯電平，則調(diào)低測(cè)試門限值后再測(cè)。如果此時(shí)以較松的門限值測(cè)試能夠通過(guò)的話，則說(shuō)明該芯片所接的負(fù)載過(guò)重，或者是芯片本身的輸出驅(qū)動(dòng)能力變差，不能吸收或施放正常負(fù)載所需的電流。出現(xiàn)這種情況時(shí)，用戶必須特別注意，處理辦法是在被測(cè)板加電和不加電兩種狀態(tài)下，重新測(cè)試該輸出腳對(duì)地的阻抗，也可使用QSM/VI方式在被測(cè)板加電和不加電兩種狀態(tài)下，測(cè)試該芯片各輸出腳的VI曲線。

5) 比較測(cè)出的各輸出腳對(duì)地阻抗，如果不加電測(cè)量的阻抗大致相等，而加電時(shí)測(cè)量出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤的輸出腳阻抗高于其它輸出腳的阻抗，則說(shuō)明該芯片功能損壞（高阻抗?fàn)顟B(tài)不能吸收或施放所需電流），應(yīng)更換該芯片。

6) 比較各輸出腳的VI曲線，如果某個(gè)輸出腳的阻抗明顯低于其它輸出腳的阻抗，則說(shuō)明問(wèn)題在該腳所接扇出負(fù)載上。檢測(cè)與該腳相接的所有芯片輸入腳的阻抗，找出其中真正的短路點(diǎn)。

為了進(jìn)一步查出問(wèn)題的根源，可用扁口鉗鉗斷被測(cè)芯片上出現(xiàn)測(cè)試錯(cuò)誤的輸出腳，再重新測(cè)試。如果這時(shí)測(cè)試通過(guò)，就表明確實(shí)是芯片所接負(fù)載的問(wèn)題。

 

2、出現(xiàn)“器件沒(méi)有完全測(cè)試”結(jié)果時(shí)

1) 當(dāng)被測(cè)芯片的輸出腳在測(cè)試過(guò)程中不發(fā)生翻轉(zhuǎn)（即在測(cè)試窗口中保持固定高或低電位）時(shí)，系統(tǒng)將提示“器件沒(méi)有完全測(cè)試”（出現(xiàn)該提示時(shí)屏幕上的波形窗口并不標(biāo)注任何測(cè)試錯(cuò)誤）。例如一個(gè)7400與非門的某個(gè)輸入腳短接到地，則對(duì)應(yīng)的輸出腳將始終為高電平，測(cè)試該芯片時(shí)將出現(xiàn)上述提示。

2) 如果用戶有被測(cè)板的電路原理圖，就能很容易地確定該芯片的管腳連接狀態(tài)是否正常。

3) 如果用戶已學(xué)習(xí)過(guò)好板，那么所學(xué)芯片的正常連接狀態(tài)也將記錄下來(lái)。測(cè)試壞板時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)與好板學(xué)習(xí)結(jié)果相比較，如果比較結(jié)果不同，則說(shuō)明壞板出現(xiàn)非法連接；如果比較結(jié)果相同，則可不考慮“器件沒(méi)有完全測(cè)試”的提示，轉(zhuǎn)到測(cè)試下一個(gè)芯片。

4) 如果被測(cè)芯片是OC器件，并在電路上設(shè)計(jì)為“線或”狀態(tài) ，那么該芯片的輸出可能會(huì)受到與其存PCB在線或關(guān)系的其它芯片的影響。例如，某個(gè)芯片的輸入邏輯使其輸出固定為低電平，則被測(cè)芯片的輸出也將固定為低電平，這時(shí)測(cè)試該芯片系統(tǒng)也將提示“器件沒(méi)有完全測(cè)試”。對(duì)此類器件用戶應(yīng)特別注意，建議使用QSM/VI方式，通過(guò)比較測(cè)試芯片上所有相同功能管腳的VI曲線，來(lái)判斷故障點(diǎn)。